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Santos, Aderito Manuel Rocha dos.

Controlo e aquisição de dados no aparelho Posch ToF-SIMS. - 61f. + anexo.

Inv. 2016 alice

Subjects--Topical Terms:
Espectrografos de massa-Espectrómetros de massa
Espectrometria-Separadores de particulas
Moléculas-Iões
ToF-SIMS
SIMS Imagem-Dual beam SIMS
Tecnologia de Vacuo do CEFITEC

Universal Decimal Class. No.: 621.384.8 SAN co